Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)

La microscopía electrónica de barrido (SEM) es una herramienta fundamental dentro de diversos campos de investigación desde ciencia de los materiales hasta la ciencia forense, la fabricación industrial e incluso ciencias de la vida, por lo que tiene aplicaciones en casi todas las ramas de la ciencia, la tecnología y la industria.

Los SEM de suelo ofrecen la flexibilidad y versatilidad necesarias para satisfacer una amplia gama de necesidades académicas e industriales, compatibilidad con muestras grandes y pesadas, variedad de accesorios, excelente calidad de adquisición de imagen para los materiales más difíciles o los detalles más pequeños, y experimentación dinámica.

Existen diversas herramientas versátiles, desde los equipos de escritorio (serie Phenom) hasta los potentes instrumentos capaces de ofrecer una resolución y un contraste incomparables

Los microscopios SEM versátiles son la opción ideal si la flexibilidad de las muestras es una prioridad.

Brindan un rendimiento excepcional en todo tipo de condiciones gracias a los modos SEM (ESEM) ambientales, que permiten el análisis de muestras de carga, desgasificación, húmedas, calientes, sucias o difíciles La alta estabilidad y facilidad de uso (así como una selección de accesorios opcionales y una cámara analítica altamente modular) hacen de estos instrumentos las herramientas de elección para los laboratorios multiusuario

La línea de microscopios Phenom redefine la velocidad, la facilidad de uso y el rendimiento gracias a su diseño y software innovadores y fáciles de usar, que permite incluso a los usuarios inexpertos obtener una imagen de SEM en cuestión de minutos.

Conoce nustros equipos:

Utra Alta Resolución IRMS

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XR-ICP-MS Serie Element™ Alta Resolución

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10 kV IRMS 253 Plus™

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MC-ICP-MS Neptune XT™

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